Intergrierte Schaltungen, auch ICs genannt, müssen getestet werden – nur so lässt sich die gefordertete Funktionanlität gewährleisten. Dazu werden die Schaltkreise mit zusätzlichen Teststrukuren versehen, genauer gesagt mit einem Testeingang (TDI) und einen Testausgang (TDO). Bei den bisher bekannten Teststrukturen legt man über den Testeingang Testsignale an und leitet diese durch alle Strukturen hindurch. Üblicherweise steht dazu nur ein Testzugang zur Verfügung, denn die Fläche, die für Zugänge zur Verfügung steht, ist limitiert. Die Folge: Lange Testdauern und somit kostenintensive Tests. In vielen Anwendungen sind Selbsttests des ICs, die während des Betriebs durchgeführt werden, aus Sicherheitsgründen notwendig. Beschrieben werden solche schnellen Selbsttests im Betrieb (In-Field-Test) von der IEEE1687.

Das neue Verfahren aus der Hochschule Hamm-Lippstadt bietet für diese Problematik eine effiziente Lösung: Es nutzt zum Test eine Vielzahl von rekonfigurierbaren Teststrukturen, die mit einem Zwischenspeicher verbunden sind. Auf diese Weise kann in den Teststrukturen nebenläufig getestet werden – die Tests gehen deutlich schneller vonstatten. Dabei hilft ein Zwischenspeicher sowie eine entsprechende individuelle Steuerung. Eine weitere Effizienzsteigerung wird durch die Verwendung von komprimierten Testdaten erreicht.